Data Mining and Diagnosing IC Fails
Guardado en:
| Autor Principal: | |
|---|---|
| Autor Corporativo: | |
| Formato: | Electrónico |
| Idioma: | English |
| Publicado: |
Boston, MA :
Springer Science+Business Media, Inc.,
2005.
|
| Series: | Frontiers in Electronic Testing,
31 |
| Materias: | |
| Acceso en línea: | SpringerLink, via BECYT |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Recurso en línea