Zevin, L. S., Kimmel, G., & Mureinik, I. (1995). Quantitative X-ray diffractometry. Springer.
Citación estilo ChicagoZevin, Lev S., Giora Kimmel, and Inez. Mureinik. Quantitative X-ray Diffractometry. New York: Springer, 1995.
Cita MLAZevin, Lev S., Giora Kimmel, and Inez. Mureinik. Quantitative X-ray Diffractometry. New York: Springer, 1995.
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