Imagen de Portada

Quantitative X-ray diffractometry /

Guardado en:
Autor Principal: Zevin, Lev S.
Otros Autores: Kimmel, Giora., Mureinik, Inez., (Editor , ed.)
Formato: Libro
Idioma:English
Publicado: New York : Springer, c1995.
Materias:
Rayos-X > Difracción.
Rayos-X > Aplicaciones industriales.
X-rays > Diffraction.
X-rays > Industrial applications.
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
BIB. PLAPIQUI
Ubicación de la biblioteca
Volumen/Tomo: No especificado
Ejemplares: 1
Signatura: 545.81 Z 6

Ejemplares similares