Vista bibliotecarios: Electron optical systems for microscopy, microanalysis & microlithography :

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Autor Corporativo:	Pfefferkorn Conference Ocean City, Md.)
Otros Autores:	Hren, John J., (Editor , ed.), Bhatt, Sudha A., (Editor , ed.)
Formato:	Libro
Idioma:	English
Publicado:	AMF O'Hare [Chicago], IL. U.S.A. : Scanning Electron Microscopy, c1984.
Materias:	Óptica electrónica > Congresos. Microscopía electrónica > Congresos. Microquímica > Congresos. Lentes magnéticas > Congresos. Electron optics > Congresses. Electron microscopy > Congresses. Microchemistry > Congresses. Magnetic lenses > Congresses.
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260			\|a AMF O'Hare [Chicago], IL. U.S.A. : \|b Scanning Electron Microscopy, \|c c1984.
300			\|a 272, viii p. : \|b il. ; \|c 29 cm.
504			\|a Incluye referencias bibliográficas e índices.
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