Diseño y metodologías de validación en sistemas microelectrónicos tolerantes a fallas inducidas por radiación /

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Otros Autores: Sondón, Santiago M. (Disertante), Mandolesi, Pablo Sergio. (Orientador), Palumbo, Félix. (Orientador)
Formato: Manuscrito
Idioma:Spanish
Publicado: 2014.
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Biblioteca Central
Volumen/Tomo: No especificado
Consulta en sala: 1
Ubicación: R 040 B148 2014-1311 Sala de Referencias - Tesis
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