Existencias: Reliability and biometry :

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Autores Corporativos:	Conference on Reliability and Biometry, Florida State University,, United States. Air Force. Office of Scientific Research., National Cancer Institute (U.S.), Florida. State University, Tallahassee. Dept. of Statistics.
Otros Autores:	Proschan, Frank, 1921- (Editor ), Serfling, Robert J. (Editor )
Formato:	Libro
Idioma:	English
Publicado:	Philadelphia : Society for Industrial and Applied Mathematics, 1974.
Materias:	Biometry > Congresses. Reliability (Engineering) > Congresses.
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BIB. MATEMATICA

Volumen/Tomo: No especificado

Ejemplares: 1
Signatura: 62 C748-1973