Cavidades ópticas con perfil recto y parabólico del índice de refracción en láseres de AlGaAs e InGaN

En la tesis se presenta un estudio sobre la influencia que tiene en los parámetros ópticos de los láseres semiconductores de Al Ga x 1-x As e In Ga x 1-x N las características de la cavidad óptica, evaluándose los perfiles rectos y parabólicos del índice de refracción. Se concluye que para un único...

Descripción completa

Guardado en:
Autor Principal: Martín Alfonso, Juan Antonio.
Autor Corporativo: e-libro, Corp.
Otros Autores: Sánchez Colina, María, (tut.), García Reina, Francisco, (tut.)
Formato: eBook
Idioma:Spanish
Publicado: Ciudad de la Habana : Editorial Universitaria, 2007.
Materias:
Acceso en línea:https://elibro.net/ereader/unsbiblio/90024
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!