Saltar al contenido
BIBLIOTECAS
  • Idioma
    • Español
    • English
    • Português (Brasil)
    • Deutsch
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
  • Entrar
  • Salir
  • Su cuenta
Avanzado
  • Buscar
  • Matching Properties of Deep Su...
  • Existencias
  • Citar
  • Enviar este por Correo electrónico
  • Exportar Registro
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
    • Exportar a MARC
    • Exportar a MARCXML
  • Agregar a favoritos
Imagen de Portada

Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors

Guardado en:
Autor Principal: Croon, Jeroen A.
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Otros Autores: Sansen, Willy., Maes, Herman E.
Formato: Electrónico
Idioma:English
Publicado: Boston, MA : Springer, 2005.
Series:The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, Analog Circuits and Signal Processing, 851
Materias:
Engineering
Physics
Electronics
Systems engineering
Circuits and Systems
Physics, general
Physics and Applied Physics in Engineering
Electronic and Computer Engineering
Electronics and Microelectronics, Instrumentation
Acceso en línea:SpringerLink, via BECYT
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
  • Existencias
  • Descripción
  • Comentarios
  • Ejemplares similares
  • Vista bibliotecarios
Recurso en línea
SpringerLink, via BECYT

Ejemplares similares

  • Power Management of Digital Circuits in Deep Sub-Micron CMOS Technologies
    por: Henzler, Stephan.
    Publicado: (2007)
  • Low-Frequency Noise In Advanced Mos Devices
    por: Haartman, Martin von.
    Publicado: (2007)
  • Fast Simulation of Electro-Thermal MEMS Efficient Dynamic Compact Models /
    por: Bechtold, Tamara.
    Publicado: (2007)
  • Microcontrollers in Practice
    por: Mitescu, Marian.
    Publicado: (2005)
  • Defects in High-k Gate Dielectric Stacks Nano-Electronic Semiconductor Devices /
    por: Gusev, Evgeni.
    Publicado: (2006)

Opciones de búsqueda

  • Historial de Búsqueda
  • Búsqueda Avanzada

Buscar Más

  • Revisar el Catálogo
  • Explorar canales

¿Necesita Ayuda?

  • Consejos de búsqueda
  • Preguntas Frecuentes
  • Contacto
  • Bibliotecas
Cargando...