Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos
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Formato: | Artículo |
Idioma: | Spanish |
Publicado: |
Pamplona, Colombia :
Universidad de Pamplona,
2006.
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Materias: | |
Acceso en línea: | https://elibro.net/ereader/unsbiblio/5429 |
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