Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM /
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| Autor Principal: | |
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| Autor Corporativo: | |
| Formato: | Electrónico |
| Idioma: | English |
| Publicado: |
Boston, MA :
Springer Science+Business Media, Inc.,
2005.
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | SpringerLink, via BECYT |
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