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1
por Root, Randal.
Publicado 2006
“...A Testers Guide to .NET Programming...”Publicado 2006
SpringerLink, via BECYT
Electrónico
2
Publicado 1964
“...Development and perfomance of the portable skid-resistance of the portable skid-resistance tester, by ...”
Libro
3
por Spillner, Andreas.
Publicado 2011 - 3rd ed.
Materias: ';
“...Computer software Testing. 001456...”Publicado 2011 - 3rd ed.
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Libro
4
Publicado 2017
“...Python unit test automation : practical techniques for Python developers and testers /...”
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5
6
Publicado 2009
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“...Testero, Jorge, ed....”
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7
8
9
10
por Linz, Tilo.
Publicado 2014 - 1st edition.
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“...Computer software Testing. 001456...”Publicado 2014 - 1st edition.
Libro
11
por Pries, Kim H., 1955-
Publicado 2011
Materias: ';
“...Embedded computer systems Testing. 039272...”Publicado 2011
Libro
12
por Kellerman, Henry.
Publicado 2007 - Fourth Edition.
Materias: ';
“...Psychological tests and testing...”Publicado 2007 - Fourth Edition.
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Electrónico
13
por Larsson, Erik.
Publicado 2005
“...Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization...”Publicado 2005
SpringerLink, via BECYT
Electrónico
14
por Marques-Silva, João.
Publicado 2007
“...Theory and Applications of Satisfiability Testing SAT 2007 10th International Conference, Lisbon, Portugal, May 28-31, 2007. Proceedings /...”Publicado 2007
SpringerLink, via BECYT
Electrónico
15
16
por Sachdev, Manoj.
Publicado 2007
“...Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition /...”Publicado 2007
SpringerLink, via BECYT
Electrónico
17
por Grieskamp, Wolfgang.
Publicado 2006
“...Formal Approaches to Software Testing 5th International Workshop, FATES 2005, Edinburgh, UK, July 11, 2005, Revised Selected Papers /...”Publicado 2006
SpringerLink, via BECYT
Electrónico
18
por Gurevich, Yuri.
Publicado 2007
“...Tests and Proofs First International Conference, TAP 2007, Zurich, Switzerland, February 12-13, 2007. Revised Papers /...”Publicado 2007
SpringerLink, via BECYT
Electrónico
19
por Linden, Wim J.
Publicado 2005
Materias: ';
“...Educational tests and measurements...”Publicado 2005
SpringerLink, via BECYT
Electrónico
20
por Uyar, M. Ümit.
Publicado 2006
“...Testing of Communicating Systems 18th IFIP TC 6/WG 6.1 International Conference, TestCom 2006, New York, NY, USA, May 16-18, 2006. Proceedings /...”Publicado 2006
SpringerLink, via BECYT
Electrónico