Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition /
Guardado en:
| Autor Principal: | |
|---|---|
| Autor Corporativo: | |
| Otros Autores: | |
| Formato: | Electrónico |
| Idioma: | English |
| Publicado: |
Boston, MA :
Springer,
2007.
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| Series: | Frontiers in Electronic Testing,
34 |
| Materias: | |
| Acceso en línea: | SpringerLink, via BECYT |
| Etiquetas: |
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