Applied logistic regression /

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Autor Principal: Hosmer, David W.
Otros Autores: Lemeshow, Stanley.
Formato: Libro
Idioma:English
Publicado: New York : Wiley, c1989.
Series:Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics
Materias:
Acceso en línea:Publisher description
Table of contents only
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300 |a xiii, 307 p. ;  |c 24 cm. 
440 0 |a Wiley series in probability and mathematical statistics.  |p Applied probability and statistics 
504 |a Incluye referencias bibliográficas (p. 291-300) e índice. 
500 |a "A Wiley-Interscience publication." 
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100 1 |a Hosmer, David W. 
700 1 |a Lemeshow, Stanley. 
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650 0 |a Regression analysis. 
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859 |h 62  |i H827  |p A-7770  |b BIB. MATEMATICA