Applied logistic regression /

Guardado en:
Autor Principal: Hosmer, David W.
Otros Autores: Lemeshow, Stanley.
Formato: Libro
Idioma:English
Publicado: New York : Wiley, c1989.
Series:Wiley series in probability and mathematical statistics. Applied probability and statistics
Materias:
Acceso en línea:Publisher description
Table of contents only
Contributor biographical information
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!