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The physics of SiO2 and its interfaces : proceedings of the International Topical Conference on the Physics of Si02 and Its Interfaces, held at the IBM Thomas J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York, March 22-24, 1978 /

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Autor Corporativo: International Topical Conference on the Physics of SiO2 and Its Interfaces Yorktown Heights, N.Y.)
Otros Autores: Pantelides, Sokrates T., (Editor , ed.)
Formato: Libro
Idioma:English
Publicado: New York : Pergamon Press, c1978.
Materias:
Silicona > Congresos.
Superficies (Fisica) > Congresos.
Química de superficies > Congresos.
Silica > Congresses.
Surfaces (Physics) > Congresses.
Surface chemistry > Congresses.
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BIB. PLAPIQUI
Ubicación de la biblioteca
Volumen/Tomo: No especificado
Ejemplares: 1
Signatura: 546.683 2 In 8

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