The physics of SiO2 and its interfaces : proceedings of the International Topical Conference on the Physics of Si02 and Its Interfaces, held at the IBM Thomas J. Watson Research Center, Yorktown Heights, New York, March 22-24, 1978 /
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| Autor Corporativo: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Libro |
| Idioma: | English |
| Publicado: |
New York :
Pergamon Press,
c1978.
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