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Advances in X-ray analysis /

Guardado en:
Autores Corporativos: Denver Research Institute., Conference on Applications of X-Ray Analysis
Formato: Libro
Idioma:English
Publicado: New York : Plenum Press, c1980.
Materias:
Rayos-X > Aplicaciones industriales.
Rayos-X > Congresos.
X-rays > Industrial applications.
X-rays > Congresses.
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BIB. PLAPIQUI
Ubicación de la biblioteca
Volumen/Tomo: 23
Ejemplares: 1
Signatura: 548.83 Ad 95 23

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