Advances in X-ray analysis /

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Autores Corporativos: Denver Research Institute., Conference on Applications of X-Ray Analysis
Formato: Libro
Idioma:English
Publicado: New York : Plenum Press, c1980.
Materias:
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245 0 0 |a Advances in X-ray analysis /  |c edited by John R. Rhodes ... [et al.]. 
260 |a New York :  |b Plenum Press,  |c c1980. 
300 |a v. :  |b il., fotos ;  |c 24-28 cm. 
500 |a Descripción basada en vol. 23. 
500 |a Incluye índices. 
020 |a 0306404354 
710 1 |a Denver Research Institute. 
711 2 |a Conference on Applications of X-Ray Analysis  |n (28th :  |d 1979 :  |c Denver) 
650 4 |a Rayos-X  |x Aplicaciones industriales. 
650 4 |a Rayos-X  |x Congresos. 
650 4 |a X-rays  |x Industrial applications. 
650 4 |a X-rays  |x Congresses. 
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040 |a DLC  |c CarP  |d DLC  |d AR-BbSID 
859 |a AR-BbSID  |b BIB. PLAPIQUI  |h 548.83  |i Ad 95  |p 668  |v 23  |3 Vol. 23