Electron beam interactions with solids for microscopy, microanalysis & microlithography : proceedings of the 1st Pfefferkorn Conference, held April 18 to 23, 1982, at the Asilomar Conference Center, Monterey, CA /
Guardado en:
| Autor Corporativo: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Libro |
| Idioma: | English |
| Publicado: |
AMF O'Hare [Chicago], IL :
Scanning Electron Microscopy, Inc.,
c1984.
|
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
| Descripción Física: | xii, 372 p. : il. ; 29 cm. |
|---|---|
| Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas e índices. |
| ISBN: | 0931288304 |