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Measurement techniques for thin films /

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Autor Principal: Schwartz, Bertram, (ed.)
Autores Corporativos: Electrochemical Society. Electronics Division., Electrochemical Society. Dielectrics and Insulation Division.
Otros Autores: Schwartz, Newton, (ed.)
Formato: Libro
Idioma:English
Publicado: New York : Electronics Division and Dielectrics and Insulation Division, Electrochemical Society, [1967]
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