Descripción: Quantitative X-ray diffractometry /

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Autor Principal:	Zevin, Lev S.
Otros Autores:	Kimmel, Giora., Mureinik, Inez., (Editor , ed.)
Formato:	Libro
Idioma:	English
Publicado:	New York : Springer, c1995.
Materias:	Rayos-X > Difracción. Rayos-X > Aplicaciones industriales. X-rays > Diffraction. X-rays > Industrial applications.
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Descripción Física:	xvii, 372 p. : il. ; 25 cm.
Bibliografía:	Incluye referencias bibliográficas (p. 355-364) e índice.
ISBN:	0387945415 (hc : alk. paper)